離子遷移測(cè)試機(jī)的使用，在如今的實(shí)驗(yàn)室當(dāng)中應(yīng)用非常廣泛，離子遷移測(cè)試機(jī)的工作原理，起源于離子遷移，是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備。

  離子遷移測(cè)試機(jī)的原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1～1000小時(shí))并觀察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是OPEN/SHORT試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。

  離子遷移測(cè)試機(jī)的使用，隨著科技的進(jìn)步不斷研發(fā)出新的性能。

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